 |
|
電阻率方阻測(cè)試儀(KDB-1)
廣量程,七個(gè)電流檔位,可在更廣范圍內(nèi)測(cè)量樣品的電阻率或方塊電阻,可連接計(jì)算機(jī)軟件進(jìn)行精確測(cè)量。
更新:2016-11-15
|
|
|
|
|
 |
|
導(dǎo)電型號(hào)測(cè)試儀(STY-3)
該儀器是嚴(yán)格按照國(guó)標(biāo)GB/T1550-1997和ASTMF42(非本征半導(dǎo)體村料導(dǎo)電類型的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法)中的熱探針及整流導(dǎo)電類型測(cè)試方法設(shè)計(jì)的導(dǎo)電 ...
更新:2016-08-31
|
|
|
|
|
 |
|
紅寶石四探針頭系列(KDT系列)
該產(chǎn)品采用特殊紅寶石鑲嵌工藝,小游移率,使得測(cè)量數(shù)據(jù)更加精確。
更新:2016-08-31
|
|
|
|
|
 |
|
四探針電阻率方阻測(cè)試儀(KDY-1)
KDY-1型四探針電阻率測(cè)試儀是廣州市昆德科技有限公司嚴(yán)格按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)(ASTM F84)及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造。
更新:2016-08-30
|
|
|
|
|
 |
|
雙組合四探針方阻/電阻率測(cè)試儀(KDB-3)
該儀器為雙電測(cè)半導(dǎo)體晶片電阻率或方塊電阻,該測(cè)試方法能消除探針間距不等及針尖機(jī)械游移變化的影響,具有自動(dòng)修正邊界效應(yīng)之功能。
更新:2016-08-30
|
|
|
|
|
 |
|
電容電壓(C-V)特性測(cè)試儀(KCV-300)
KCV-300型電容電壓(C-V)特性測(cè)試儀是測(cè)試頻率為1MHz的數(shù)字式電容測(cè)試儀器。專用于測(cè)量半導(dǎo)體器件PN結(jié)勢(shì)壘在不同偏壓下的電容量,也可 ...
更新:2016-08-30
|
|
|
|
|
 |
|
微波光電導(dǎo)載流子復(fù)合壽命測(cè)試儀(WJ-100C)
WJ-100C型微波光電導(dǎo)載流子復(fù)合壽命測(cè)試儀是參照半導(dǎo)體設(shè)備和材料國(guó)際組織SEMI標(biāo)準(zhǔn)MF1535-0707及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 26068-2010設(shè)計(jì)制造。
更新:2016-08-30
|
|
|
|
|
 |
|
微波光電導(dǎo)載流子復(fù)合壽命測(cè)試儀(WJ-100B)
WJ-100B型微波光電導(dǎo)載流子復(fù)合壽命測(cè)試儀是參照半導(dǎo)體設(shè)備和材料國(guó)際組織SEMI標(biāo)準(zhǔn)MF1535-0707及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 26068-2010設(shè)計(jì)制造。
更新:2016-08-30
|
|
|
|
|
 |
|
微波光電導(dǎo)載流子復(fù)合壽命測(cè)(WJ-100A)
WJ-100A型微波光電導(dǎo)載流子復(fù)合壽命測(cè)試儀是參照半導(dǎo)體設(shè)備和材料國(guó)際組織SEMI標(biāo)準(zhǔn)MF1535-0707及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 26068-2010設(shè)計(jì)制造。用 ...
更新:2016-08-30
|
|
|
|
|
 |
|
[新品] 微波掃描無接觸少子壽命測(cè)試儀(WJ-200A)
交易類型:產(chǎn)品名稱:硅錠載流子壽命掃描測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品型號(hào):WJ-200B廠商:廣州市昆德科技有限公司編號(hào):日 期:2016-6-21單價(jià):交易類型:產(chǎn)品 ...
更新:2016-08-30
|
|
|
|
|
還沒找到想要購買的產(chǎn)品嗎?嘗試免費(fèi)發(fā)布求購信息,讓供應(yīng)商主動(dòng)找上門! |
|
|
|
推薦會(huì)員 |
 |
 |
《新能源網(wǎng)》客服熱線: |
0571-28068180 |
|
《新能源網(wǎng)》客服QQ: |
|
您可以給我們留言,尋求幫助。
我們會(huì)在一個(gè)工作日內(nèi)給您回復(fù)! |
 |
|
|
 |
|