產品特色

可量測單一像素點的量子效率。

可量測全數組像素量子效率。

可產生各種所需單色光均勻光源，自動化校正各單色光、特定單色光入射光子數。

可量測CRA特性(選配)

軟件可配合用戶需求修改(選配)。

為全自動化設計，操作簡易。

系統優勢:

*QE-IS系統采用光焱科技研發多年的單色光均光系統具備下列多項優勢:

*高均勻度

*可產生高均勻度的單色光光斑，在10x10mm2面積內均勻度可以>99%，在20x20mm2面積內仍可維持在>98%。與積分球系統相較，具有更佳的均勻度表現。

*高光強度、高訊噪比

*QE-IS高效率均光系統，以550nm單色光為例，在QE-IS系統光均面的光強度可>5 uW/cm2，相較于積分球系統的單色光強僅1x10-8 uW/cm2，兩者差距千萬倍，QE-IS系統量測具備***的訊噪比，可精確測出感光組件的量子效率等相關光學特性。 

*可作單像素QE量測

*因QE-IS單色光強度足夠(5 uW/cm2@550nm)，打在1 um的像素單元，產生的光電流約在20 pA，相較于積分球系統產生的單一像素光電流在sub-fA以下，QE-IS系統可直接用于量測數組感光組件上，任何單一像素的量子效率。 

*可作全數組像素QE量測

*除單一像素量測，QE-IS可整合或是被整合于使用者自行開發的感光組件的數字電路訊號，以量測全數組像素QE。 

*可作CRA量測

*QE-IS的均勻單色光發散角度< 5度，相較積分球的發散角度 >90度，搭配選配的旋轉平臺，即可量測CRA(Chief Ray Angle)特性。無需額外添購系統，方便整體的量測。