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AAA級太陽能模擬器
美國進口SS50AAA-PLC太陽模擬器是當今世界***高等級的太陽能模擬器，國際公認的用來模擬太陽輻照度和頻譜的設備。太陽模擬器廣泛應用于 ...
更新:2014-09-29
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少子壽命測試儀(HS-CLT)
合能陽光少子壽命測試儀(HS-CLT)，是一款功能強大的少子壽命測試儀，不僅適用于硅片少子壽命的測量，更適用于硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼 ...
更新:2014-09-29
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無接觸少子壽命掃描儀(HS-MWR-2S3)
合能陽光無接觸少子壽命掃描儀(HS-MWR-2S-3)功能強大，能夠對單晶硅棒、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃 ...
更新:2014-09-29
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紅外探傷儀(NIR-01)
紅外探傷測試儀是專門用于多晶硅片生產中的硅塊硅棒硅片的裂縫、雜質、黑點、陰影、微晶等缺陷探傷的儀器。
更新:2014-09-29
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原生多晶型號測試儀(HS-PSTT)
合能陽光原生多晶型號測試儀(HS-PSTT)，是一款高端半導體材料型號測試儀器，具有大量程測試范圍的特點，尤其適用于西門子法原生硅料生 ...
更新:2014-09-29
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硅片表面線痕深度測試儀(HS-SRT-301)
硅片表面線痕深度測試儀(HS-SRT-301)可用于測試硅片的表面線痕深度，具有便于攜帶、觸摸屏便捷操作、液晶顯示、節(jié)能等優(yōu)點，同時內置打 ...
更新:2014-09-29
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太陽能電池量子效率測試儀(PVE300)
我公司銷售的PVE300是基于Bentham公司專業(yè)的技術及25年的行業(yè)經驗，PVE300能夠快速并準確的給出分析數(shù)據(jù)，是經過市場檢驗的被廣泛應用 ...
更新:2014-09-29
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太陽能電池量子效率測試儀(PH-IQE200)
PH-IQE200為太陽能電池光譜響應測試，或稱量子效率QE（Quantum Efficiency）測試，或光電轉化效率IPCE (Monochromatic Incident Photon ...
更新:2014-09-29
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激光橢偏儀(PH-LE)
多角度激光橢偏儀(PH-LE型)專門針對晶硅太陽能電池絨面上的減反膜測量，能夠測量薄膜厚度及其光學常數(shù)，使用632.8nm波長氦氖激光器，具 ...
更新:2014-09-29
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全自動光譜橢偏儀(PH-ASE)
全自動光譜橢偏儀(PH-ASE型)把使用者從煩瑣的手動調節(jié)樣品高度和傾斜度工作中解放出來，樣品對準是為了保證橢偏儀測量的可重復性和精確 ...
更新:2014-09-29
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無接觸少子壽命測試儀(HS-SIM)
合能陽光無接觸少子壽命測試儀(MWR-SIM)，是一款功能強大的無接觸少子壽命測試儀，能夠對單晶硅棒、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、 ...
更新:2014-09-29
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硅片缺陷觀測儀(HS-WDI)
硅片缺陷觀測儀(HS-WDI)，于對硅片的缺陷進行觀察，效果非常明顯，包括肉眼無法觀測的位錯、層錯、劃痕、崩邊等。 實時對圖像進行分析 ...
更新:2014-09-29
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手動無接觸硅片測試儀(HS-NCS-300)
手動無接觸硅片測試儀(HS-NCS-300型)可以測量硅片厚度、總厚度變化 TTV 、彎曲度，該儀器適用于 Si ， GaAs ， InP ， Ge 等幾乎所有的 ...
更新:2014-09-29
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