合能陽光無接觸少子壽命測試儀(MWR-SIM)，是一款功能強大的無接觸少子壽命測試儀，能夠?qū)尉Ч璋簟⒍嗑Ч鑹K及硅片提供快速、無接觸、無損傷單點少子壽命測試，其通過微波光電衰退特性原理來測量非平衡載流子壽命的，并且單晶硅棒、多晶硅塊無須進行特殊處理。少子壽命測試量程從0.5μs到300μs,P型電阻率量程為0.8-100Ω.cm,N型電阻率量程為0.5-100Ω.cm，是太陽能電池硅片企業(yè)、多晶鑄錠企業(yè)、拉晶企業(yè)不可多得的測量儀器。

產(chǎn)品特點:

■ 無接觸和無損傷測量

■ 可移動掃描頭，便于測量

■ 測試范圍廣：包括硅塊、硅棒、硅片等少子壽命測量

■ 主要應用于硅棒硅塊、硅片的進廠、出廠檢查，生產(chǎn)工藝過程中重金屬沾污和缺陷的監(jiān)控等

■ 性價比高，極大程度地降低了企業(yè)的測試成本

■ 質(zhì)保期：1年

推薦工作條件:

■ 溫度：15-30℃

■ 濕度：10%~80%

■ 大氣壓：750±30毫米汞柱

技術(shù)指標:

■ 少子壽命測試范圍:0.5μs-300μs

■ 測試尺寸:尺寸不限

■ 測試時間：1-30s(具體和信號質(zhì)量及測試精度有關(guān))

■ 電阻率范圍：P型：0.8Ω.cm-100Ω.cm（范圍之外可測量，但將有一定測試偏差） n型：0.5Ω.cm-100Ω.cm（范圍之外可測量，但將有一定測試偏差）

■ 激光波長：980±30nm,測試功率范圍：50-500mw,脈沖寬度調(diào)節(jié)范圍：0.5-60μs

■ 工作頻率： 10GHz±0.5

■ 儀器測試精度：±3.5％

■ 電源：～220V 50Hz 功耗＜30W

■ 微波測試單元功率：0.01W±10%

■ 掃描頭尺寸：290mm *200mm *65mm, 電器控制單元: 210mm*220mm*60mm

■ 掃描頭重量：3KG，電器控制單元：1kg

典型用戶: 河北，江西，江蘇，浙江，新疆等地拉晶鑄錠客戶